粉末電阻率測試系統可代替三菱化學MCP-PD51

粉末電阻率測試系統可代替三菱化學MCP-PD51

 eLiPMS-2000 粉體電阻率測試系統組成、功能、性能表： 

系統搭配三菱化學 Loresta-GX 高精度四探針儀 (MCP-T700)、自主開發之測試軟件、一般辦公用電腦。

 1) 內置的精密四探針探頭模腔組件及精密荷重測力傳感器單元，大施加壓力 30KN，約 95MPa； 在大壓力范圍內可設置任意壓力點進行測試分析。一鍵啟動，自動進行加壓、測試、釋放。

2) 簡易操作軟件界面，可設置壓力點下的保壓時間（保壓時間到再測試），自動測量壓實下粉末 之電阻、面電阻、電阻率、電導率、厚度、壓強、顆粒壓實密度特性等參數。

3) 系統通過與三菱化學LORESTA-GX(MCP-T700)低阻率計連接，可測試寬范圍之粉體阻抗特征。 電阻測試范圍：0.001*10-4~9.999*107 Ω；電阻率=Ω*厚度（單位 cm）

4) *的探針單元，高精度四探針測試原理，消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。 也可以裁剪φ20mm 的正負電極片形成樣品來測試電池極片在不同壓力下的電阻特性；或者單 獨使用 MCP-T700 及其標配探頭或選配探頭來測試片材，所謂一機兩用。

應用：阻性粉末材料研發及品質控制。

 測試領域：碳 粉 如充電電池的電極材料、電子材料（電容器，電阻等）等

 金屬粉末：電池的電極材料、薄膜材料（銅粉末、ITO 粉末等等）、導電膏、導電油漆和涂料、綠 色接觸材料等。

其它粉末： 墨粉和相關的粉體/磁性材料如鐵素體、汽車配件等材料